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ECM-100离子迁移测试装置

离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000  小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF  试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。( ION MIGRATION TESTING )

在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。

适用规格 : JPCA- - ET01- - 2001


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